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遮陽半球輻射率檢測儀簡介：

本儀器用于(yu)直(zhi)接測(ce)(ce)量(liang)(liang)中(zhong)空玻(bo)(bo)璃(li)中(zhong)Low-E膜面輻射率，同(tong)時測(ce)(ce)量(liang)(liang)中(zhong)空玻(bo)(bo)璃(li)的(de)玻(bo)(bo)璃(li)及中(zhong)空腔厚度，并識別Low-E膜面的(de)位置。具有小巧便攜、測(ce)(ce)量(liang)(liang)速度快、自動測(ce)(ce)量(liang)(liang)的(de)優(you)點。特別適合(he)對已安裝建筑玻(bo)(bo)璃(li)、門窗玻(bo)(bo)璃(li)進行現場無損測(ce)(ce)量(liang)(liang)。

GM800半球輻(fu)射率(lv)測試儀功(gong)能：無損(sun)測量中(zhong)空玻璃中(zhong)Low-E膜(mo)面的輻(fu)射率(lv)；

　　　測量中(zhong)空玻璃、中(zhong)空腔厚度(du)及總厚度(du)；

　　　識別中空玻璃Low-E膜(mo)面的位置(zhi)。

半球輻射(she)率(lv)亦稱為比(bi)(bi)輻射(she)率(lv)，是物(wu)體單元外表(biao)面向整個半球空(kong)間發射(she)的(de)一(yi)切波長(chang)的(de)總輻射(she)，它(ta)的(de)總輻射(she)能(neng)與同溫(wen)度(du)下黑體輻射(she)能(neng)之比(bi)(bi)。

斯蒂芬(fen)-玻耳茲曼(man)定律描繪的(de)是物(wu)體單元外表面向整(zheng)個(ge)半球空間(jian)發射(she)的(de)一切(qie)波長(chang)的(de)總(zong)輻(fu)射(she)，它的(de)總(zong)輻(fu)射(she)能(neng)與同溫度下黑體輻(fu)射(she)能(neng)之比(bi)稱為(wei)(wei)半球輻(fu)射(she)率，亦稱為(wei)(wei)比(bi)輻(fu)射(she)率。半球發射(she)率ε與法向發射(she)率εn的(de)關系為(wei)(wei):ε=Mεn，M為(wei)(wei)修正系數(shu)。

LOW-E玻璃(li)的(de)半(ban)球輻射率一(yi)般是(shi)0.45

low-e玻(bo)(bo)璃(li)(li)是(shi)鍍(du)膜(mo)(mo)玻(bo)(bo)璃(li)(li)地一種。 Low-E玻(bo)(bo)璃(li)(li)又稱低輻射(she)(she)(she)玻(bo)(bo)璃(li)(li)，是(shi)在(zai)玻(bo)(bo)璃(li)(li)外(wai)表鍍(du)上多(duo)層(ceng)金(jin)屬(shu)或(huo)其他化合(he)物構成(cheng)地膜(mo)(mo)系產(chan)物。其鍍(du)膜(mo)(mo)層(ceng)具有對可見光高透過及對中遠紅外(wai)線高反(fan)射(she)(she)(she)地特征. 一般鍍(du)膜(mo)(mo)玻(bo)(bo)璃(li)(li)是(shi)在(zai)玻(bo)(bo)璃(li)(li)外(wai)表涂(tu)鍍(du)一層(ceng)或(huo)多(duo)層(ceng)金(jin)屬(shu)、合(he)金(jin)或(huo)金(jin)屬(shu)化合(he)物薄膜(mo)(mo)，以(yi)改動玻(bo)(bo)璃(li)(li)地光學性(xing)能，又稱熱(re)反(fan)射(she)(she)(she)玻(bo)(bo)璃(li)(li)。鍍(du)膜(mo)(mo)玻(bo)(bo)璃(li)(li)中應用最(zui)多(duo)地是(shi)熱(re)反(fan)射(she)(she)(she)玻(bo)(bo)璃(li)(li)和低輻射(she)(she)(she)玻(bo)(bo)璃(li)(li)。根本上采用真空磁控濺射(she)(she)(she)法(fa)(離線)和化學氣相堆積法(fa)(在(zai)線)兩種消費辦法(fa)。

遮陽半球輻射率檢測儀注意事項：

1.在使(shi)用儀器過程中需要確保輻射檢測儀的探(tan)測口與需要測測量的放(fang)射源之間(jian)不存在任何阻擋。

2.當使用輻射(she)檢(jian)測(ce)儀在對(dui)反射(she)源進行(xing)測(ce)量(liang)的(de)過(guo)程中不可(ke)(ke)以將測(ce)量(liang)窗口面向(xiang)太陽，否則對(dui)讀數可(ke)(ke)能(neng)會造成一定的(de)影響。

3.探(tan)頭在裝在輻射檢(jian)測儀背面網狀(zhuang)窗內，測量過(guo)程中(zhong)網狀(zhuang)窗需要與被(bei)測物對準。

4.當方式開關位(wei)于(yu)mR/hr、μSV/hr或(huo)CPMCPS狀態時，儀(yi)器所顯示(shi)的讀(du)數會(hui)(hui)每三(san)秒(miao)鐘(zhong)顯示(shi)一次，可(ke)能會(hui)(hui)導(dao)致在低計數率(lv)情況下(xia)顯示(shi)出的輻射水平會(hui)(hui)存在明顯的波動(dong)。